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线扫描膜厚仪【离线型】
特点
● 全 面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测
● 硬件&软件均为创 新设计
● 作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援
● 实现高精度测量
● 实现高速测量(500万点以上/分)