产品展示
  • 电感式接近传感器
    IQE 传感器是用于所有类型自动化任务的经济型常规产品。它们以紧凑的结构实现准确检测、高可靠性和良好的性价比。因此，IQE 系列传感器非常适合广泛应用于对价格敏感的自动化任务中。
  • 电感式接近传感器
    IMM 电感式接近传感器的特征在于，空间需求小而功率大。因此，其可以毫无妥协地实现更高等级的微型化。凭借高达 6 mm 的 3 倍触发感应距离，IMM 能够从****的远距离识别物体。IMM 结构尺寸小、重量轻且开关特性准确、快速，理想适用于高动态处理和装配流程。先进的专用集成电路技术可实现可视化调节指示器的集成以及通过 IO-Link 1.1 版实现通信。这节省了调试时间，减少了安装错误，同时将传感器变成了未来自动化应用的数据提供者。
  • 电感式接近传感器
    显著提高距离：IMX 的触发感应距离是常规传感器的四倍，为电感式接近传感器设定了新标准。长达 50 mm 的触发感应距离确保了更高的过程性能，使 IMX 成为过去电感式传感器无法实现的应用的理想选择。在对空间要求非常高的应用中，IMX 传感器的紧凑设计可有效节省安装空间。同时，更远的距离还能减少机械损伤。坚固耐用的设计确保了更少的停机时间、稳定的过程和更高的系统吞吐量。
  • 电感式接近传感器
    即使在恶劣的使用环境下，IMG 感应式接近传感器也能可靠检测金属物体。在成本敏感型移动式应用和自动化解决方案中，它适合用作确定终端位置或测量速度的开关。即使温度波动较大，IMG 也能确保无故障运行。传感器全封装技术能够抵御机械冲击和振动的影响，防护等级达 IP69K，具有防水、防油、防冷却液以及防各类脏污的特性。因此，IMG 是适用于富有挑战性的户外应用和机械制造的经济型解决方案。该传感器采用即插即用技术，可以快速投入运行。
  • 磁性传感器
    MAS 磁性角度传感器是一种相当经济的角度测量和位置检测的解决方案。其分体式设计结构由磁铁和传感器组成，节省空间，使用灵活。MAS 的测量原理以霍尔效应为基础，实现了非接触式和无磨损的角度测量。如此即可避免故障，又可降低服务成本。由于 IO-Link，可以轻松配置传感器，并且可以通过诊断数据提前进行监测。
  • 磁性传感器
    MQB 磁性接近传感器能透过诸如不锈钢、铝、塑料或木材等非磁性材料可靠地检测永磁铁。MQB 传感器的紧凑设计可实现简单快捷的安装，因此深受用户青睐。这款传感器耐抗灰尘、热量和振动，因此即使在恶劣环境下也能可靠工作。
  • 磁性传感器
    MIS 是一种磁性编码识别传感器，用于识别磁性编码标签。MIS 与磁性编码标签和 SICK 的安装支架（可选）一起使用。标签编号的输出可选择通过模拟电压或电流输出或者 IO-Link 来实现。模拟输出在出厂时设置为 16 步的分度，因此可区分 15 个磁性编码标签。除了识别标签，还可通过数字化开关输出将标签存在性传送至控制器。基于该功能方式，MIS 尤其适用于轻松的识别任务，例如用于更换工具或规格。得益于经过磁性编码的标签降低编程工作量，因为无需先说明标签。传感器和标签只需安装至所需位置，便可开始运行。 MIS 概览 获益 非常容易安装和调试 重复精度高 无需**台传感器来检查存在性 无需编码，因为标签已经过磁性编码 在受到冲击和振动时，可靠紧固件也能固定传感器，提高可靠性 特点 用于读取磁性编码标签的识别传感器 可选择通过模拟性电压或电流输出或 IO-Link 输
  • 磁性传感器
    MLS 是用于为自动导航车与运输车导航的磁性轨迹导引传感器。传感器对准磁性轨迹中心，实现导航。该传感器能可靠区分*多三条轨迹。从而也能利用岔道和并线顺利调动车辆或运输车。选择磁带和安装高度时，MLS 具有较大灵活空间，可提供检测范围多样的各种变型。这可实现设计和加装方面的高度灵活性。轨迹侧旁可安装磁性标志，实现更多车辆指令。集成式惯性测量单元利用传感器位置信息对车辆导航提供支持。
  • 磁性传感器
    对于触发感应距离大并通过介质可靠准确地检测磁性物体的应用，磁性接近传感器都可以毫无问题地胜任。磁性接近传感器特别为严酷的作业环境而设计：不易受灰尘、热和振动影响。典型的使用范围也包括那其他传感器技术局限的领域。NAMUR 型号用于爆炸性环境，有 MM12 和 MM18 两个型号可选择。
  • 磁性传感器
    对于触发感应距离大并通过介质可靠准确地检测磁性物体的应用，磁性接近传感器都可以毫无问题地胜任。磁性接近传感器特别为严酷的作业环境而设计：不易受灰尘、热和振动影响。公制外壳传感器提供 MM08、MM12 和 MM18型号。
  • 槽形传感器
    WFE 是一款坚固耐用的槽形传感器，可以轻松快速地安装。由于其可靠性和检测准确性，它适用于多种应用。WFE 可以 5 kHz 的高开关频率准确检测尺寸仅为 0.5 mm 的物体。灵敏度调节、推挽式输出以及明通/暗通切换使其应用灵活、便捷。WFE 安装于坚固的混合结构外壳中 (IP67)，该外壳由 ABS 塑料制成且带有碳钢框架，即使在恶劣的环境下也能提供可靠的性能。提供 5 种不同的槽宽和不同的连接类型可供选择。因此，WFE 是多合一槽形传感器解决方案
  • 槽形传感器
    无论标签和载体材料的印刷方式、透明度和表面粗糙度如何，UF 超声波槽形传感器都可以将其识别出来。它识别如透明载体材料上的透明标签和标签上不同的印刷图案，并区别材料是一层还是两层。该 UF 超声波槽型传感器可识别胶带上间距仅 2 mm 的标签。定位准确度高并且响应时间短，这使得槽形传感器应用非常普遍。小巧紧凑的铝制外壳同样可以适用于狭窄空间。UF 传感器的超声波原理基于不同材料厚度所导致的信号衰减。
  • 槽形传感器
    SICK 的槽形传感器 UFW 可实现非接触式织边引导。得益于超声波技术，UFW 能够以高精度识别出大量材料，尤其适用透明薄膜或对光敏感的材料应用。紧凑型外壳设计（30 mm 和 60 mm 叉形件宽度）安装简便，可有效节省空间。通过示教键轻松校准。三个 LED 灯可以概览显示叉形件内的织物材料位置。另外，IO-Link 通信接口还提供了多种可能性，比如准确调整、分析和监控。
  • 传感器
    Condition Monitoring（状态监测）传感器 Multi Physics Box 用于电机、泵、输送系统或风扇等的连续状态监控。其测量振动、冲击和温度，由此提供潜在故障和机械故障的指标。如果测量值超过可个性化定义的限值，则会发出警报。通过多级警报，振动值的限值可用于根据 ISO 10816-3 对机械进行振动监控。传感器可以通过 IO-Link 或通过基于警报的简单开关信号集成到机械或设备中。无论是在现场还是与 Cloud Service（云服务）结合使用：Multi Physics Box 都为避免计划外停机时间和有效降低成本奠定了数据基础。
  • 大塚otsukael 高灵敏度NIR量子效率测量系统QE-5000
    可以检测到单线氧（活性氧）
  • 日本大塚otsukael 量子效率测量系统QE-2100
    可以立即测量**量子效率（**量子收率）。与粉末，溶液，固体（膜）和薄膜样品兼容。停滞的光多通道光谱检测器可显着降低紫外线范围内的流浪光。此外，采用集成半球单元可以实现明亮的光学系统，并且可以通过重新激发荧光校正来进行高度准确的测量，从而利用这一优势。此外，它可以测量量子效率的温度依赖性，并适应从紫外线到近红外的各种波长。
  • 大塚otsukael 非接触分光干涉晶圆膜厚仪SF-3
    即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现性 可进行高速...
  • 日本大塚otsukael 多波长多通道光谱仪 MCPD-6800
    产品信息 特长 应用广泛的测量仪。 以*高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用途提出*适合的方案。 不同评价方法对应不同设备
  • 日本大塚otsukael 12波长多通道光谱仪 MCPD-9800
    产品信息 特长 应用广泛的测量仪。 以*高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用途提出*适合的方案。 不同评价方法对应不同设备
  • 大塚otsukael 多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLA
    ● nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。 另外，这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量”的新产品。
  • 日本大塚otsukael 显微分光膜厚仪 OPTM series
    ● 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、**反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。适用于各种可透光膜层的测试，并有****可针对透明基板去除背面反射，从而达到“真实反射率、膜厚”测试的目的。此外，软件操作简单、使用方便且简化了复杂的建模流程
  • 日本大塚otsukael Zeta电位，粒径和分子量测量Elszneo
    【ELSZneo使光散射的物性评价迈向新舞台】ELSZneo是ELSZ series的***机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的装置。作为新的功能，为了提高粒度分布的分离能力，采用了多角度测定。
  • 日本大塚otsukael 0.1μm单位的便携式Smart膜厚仪
    ● 可携带至现场的手持式 ● 可测量0.1μm单位 ● 具有形状的样品也可非破坏的测量 ● 不论基材材质、可测量其镀膜
  • 日本大塚otsukael 光波动场三次元显微镜 MINUK
    MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。
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