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产品详情
  • 产品名称:日本OTSUKA大塚高速相位差测量装置

  • 产品型号:RE-200
  • 产品厂商:日本OTSUKA大塚
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简单介绍:
日本OTSUKA大塚高速相位差测量装置 RE-200
详情介绍:

特 点

● 可测从0nm开始的低(残留)相位差
● 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)
(相当于世界*快速的0.1秒以下来处理)
● 无驱动部,重复再现性高
● 设置的测量项目少,测量简单
● 测量波长除了550nm以外,还有各种波长
● Rth测量、全  方   位角测量
(需要option的自动旋转倾斜治具
● 通过与拉伸试验机组合,可同时评价膜的偏光特性和光弾性
(本系统属特注。)


   

测量项目

● 相位差(ρ[°], Re[nm])
● 主轴方位角(θ[°])
● 椭圆率(ε),方位角(γ)
● 三次元折射率(NxNyNz)


   

用 途

● 位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜
● 树脂、玻璃等透明、非均质材料(玻璃有变形,歪曲等)



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