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产品详情
  • 产品名称:日本OTSUKA大塚重庆江北代理椭偏仪

  • 产品型号:FE-5000
  • 产品厂商:日本OTSUKA大塚
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简单介绍:
日本OTSUKA大塚椭偏仪 FE-5000
详情介绍:

椭偏仪 FE-5000

特点

可在紫外和可见(250至800nm)波长区域中测量椭圆参数

● 可分析纳米级多层薄膜的厚度

● 可以通过超过400ch的多通道光谱快速测量Ellipso光谱

● 通过可变反射角测量,可详细分析薄膜

● 通过创建光学常数数据库和追加菜单注册功能,增强操作便利性

● 通过层膜贴合分析的光学常数测量可控制膜厚度/膜质量

测量项目

测量椭圆参数(TANψ,COSΔ)

光学常数(n:折射率,k:消光系数)分析

薄膜厚度分析


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