所在位置: 首页> 产品目录> 检测设备>
产品详情
  • 产品名称:日本OTSUKA大塚南充代理膜厚量测仪

  • 产品型号: FE-300
  • 产品厂商:日本OTSUKA大塚
  • 产品价格:0
  • 折扣价格:0
  • 产品文档:
你添加了1件商品 查看购物车
简单介绍:
日本OTSUKA大塚四川南充代理膜厚量测仪FE-300
详情介绍:

膜厚量测仪 FE-300



特点

● 支持从薄膜到厚膜的各种薄膜厚度

● 使用反射光谱分析薄膜厚度

● 实现非接触、非破坏的高精度测量,同时体积小、价格低

● 简单的条件设置和测量操作!任何人都可以轻松测量薄膜厚度

● 通过峰谷法、频率分析法、非线性*小二乘法、优化法等,可以进行多种膜厚测量。

● 非线性*小二乘法薄膜厚度分析算法可以进行光学常数分析(n:折射率,k:消光计数)。

测量项目

绝 对反射率测量

膜厚分析(10层)

光学常数分析(n:折射率,k:消光计数)



产品留言
标题
联系人
联系电话
内容
验证码
点击换一张
注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!